RELAX: Tracer優化和Relaxometry測量
使用"RELAX™模組再直接在 MOMENTUM磁性粒子成像系統上篩選和優化您的磁性奈米粒子。
磁性粒子照影可檢測奈米磁性粒子,可生成高靈敏度、高對比度的圖像,並可用於定量研究。磁性照影的靈活性和應用性高度依賴於使的Tracer。利用Relaxometry的測量,可以在不同大小、組成、結構、材質、Coating等特性變化中找出最適合的Tracer。通過使用 RELAX Module針對您的特定應用,找尋最佳特性的Tracer,達到最高的影像品質。。
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